2025-06-06 00:14:01
無(wú)論使用何種助焊劑，總會(huì)在焊接后的PCB及焊點(diǎn)上留下或多或少的殘留物，這些殘留物不僅影響PCBA的外觀，更可怕的是構(gòu)成了對(duì)PCB可靠性的潛在威脅；特別是電子產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間在高溫潮濕條件下工作時(shí)，殘留物便可能導(dǎo)致線路絕緣老化以及腐蝕等問(wèn)題，進(jìn)而出現(xiàn)絕緣電阻（SIR）下降及電化學(xué)遷移（ECM）的發(fā)生。隨著電子行業(yè)無(wú)鉛化要求的實(shí)施，相伴錫膏而生的助焊劑也走過(guò)了松香（樹脂）助焊劑、水溶性助焊劑到使用的免洗助焊劑的發(fā)展歷程，然而其殘留物的影響始終是大家尤為關(guān)心的方面電阻測(cè)試能幫助識(shí)別電路中的短路和斷路問(wèn)題，及時(shí)排除故障。廣州PCB絕緣電阻測(cè)試哪家好
參考標(biāo)準(zhǔn) IEC 60068-2-14 試驗(yàn)方法 N：溫度變化中的 Nc。實(shí)現(xiàn)方式為吊籃式，將產(chǎn)品放置在吊籃中按照要求浸入不同的溫度液體中。則適用于玻璃-?屬密封及類似產(chǎn)品，因此電器產(chǎn)品中不予考核該項(xiàng)目。IEC 60068-2-14，Na 以及 ISO 16750-4 5.3.2 冷熱沖擊試驗(yàn)中推薦的循環(huán)數(shù)為 5，實(shí)際應(yīng)用中過(guò)少，推薦使用表 3 參數(shù)。IEC 60068-2-14、ISO 16750-4 、MIL-STD-810F 及 GJB150 中對(duì)于冷熱沖擊的要求循環(huán)數(shù)都為 5 個(gè)循環(huán)以內(nèi)。該三類標(biāo)準(zhǔn)對(duì)此試驗(yàn)的定義為：確定裝備能否經(jīng)受其周圍大氣溫度的急劇變化，而不產(chǎn)生物理?yè)p壞或性能下降，模擬的情況為：產(chǎn)品的航空運(yùn)輸、航空下投以及其它產(chǎn)品從不同溫度區(qū)域轉(zhuǎn)移的情況。對(duì)于汽車類產(chǎn)品，執(zhí)行此標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，因?yàn)槲覀兛己说哪M情況不一樣，故參數(shù)需要進(jìn)行變動(dòng)，主要變動(dòng)參數(shù)為：循環(huán)數(shù)增加（因應(yīng)用到汽車電器產(chǎn)品中為加速老化試驗(yàn)，故其循環(huán)數(shù)一般超過(guò) 100）。廣州PCB絕緣電阻測(cè)試哪家好電阻測(cè)試結(jié)果的解讀需結(jié)合元件的標(biāo)稱值及允許誤差范圍。
在現(xiàn)代制造業(yè)中，提高產(chǎn)線測(cè)試效率對(duì)于企業(yè)的成本控制、生產(chǎn)周期優(yōu)化以及市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力提升都具有至關(guān)重要的意義。GWLR - 256 多通道 RTC 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)憑借其創(chuàng)新的設(shè)計(jì)和***的性能，為產(chǎn)線測(cè)試效率的提升帶來(lái)了***的積極影響，實(shí)現(xiàn)了從傳統(tǒng)測(cè)試模式到高效自動(dòng)化測(cè)試的重大變革。傳統(tǒng)的測(cè)試設(shè)備在進(jìn)行多通道導(dǎo)通電阻測(cè)試時(shí)，普遍存在效率低下的問(wèn)題。以單通道測(cè)試時(shí)間為例，通?！? 秒，若要完成 256 通道的全測(cè)，所需時(shí)間將超過(guò) 4 分鐘。這樣的測(cè)試速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)無(wú)法滿足現(xiàn)代大規(guī)模生產(chǎn)線上快速檢測(cè)的需求。而 GWLR - 256 通過(guò)一系列精心設(shè)計(jì)的功能，成功打破了這一效率瓶頸。
測(cè)試模式：1）熱沖擊式2）溫度定值式3）無(wú)溫度判定式熱沖擊模式(1)可收錄溫度循環(huán)中的低溫區(qū)/高溫區(qū)中各1點(diǎn)數(shù)據(jù)。該模式***于使用溫度模塊時(shí)。(a)由于溫沖箱和測(cè)試系統(tǒng)是用不同的傳感器測(cè)量溫度的，因此，多少會(huì)產(chǎn)生溫度偏差。(b)測(cè)試值以高溫限定值和低溫限定值的設(shè)定值為基點(diǎn)，在任意設(shè)定的收錄間隔時(shí)間后，在各溫度下，測(cè)量1次，（將高溫及低溫作為1個(gè)循環(huán)，各測(cè)1次）各限定值的基準(zhǔn)以5℃左右內(nèi)為目標(biāo)進(jìn)行設(shè)定，而不是溫沖箱的設(shè)定溫度。另外，將各試驗(yàn)時(shí)間（高溫時(shí)間、低溫時(shí)間）的一半作為目標(biāo)設(shè)定收錄間隔時(shí)間。注）因?yàn)?，測(cè)試系統(tǒng)上搭載的測(cè)試模塊的數(shù)量會(huì)變動(dòng)，所以，請(qǐng)不要在溫沖箱的溫度保持時(shí)間結(jié)束后的3分鐘后設(shè)定數(shù)據(jù)收錄間隔時(shí)間。隨著技術(shù)的發(fā)展，電阻測(cè)試的方法和儀器也在不斷更新迭代。
GWLR-256的智能預(yù)警系統(tǒng)也是提升產(chǎn)線測(cè)試效率的關(guān)鍵因素之一。該系統(tǒng)能夠在測(cè)試過(guò)程中實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)阻值突變以及超閾值通道的情況。一旦發(fā)現(xiàn)異常，系統(tǒng)會(huì)立即自動(dòng)標(biāo)記失效點(diǎn)，并統(tǒng)計(jì)異常出現(xiàn)的次數(shù)。這一功能在實(shí)際生產(chǎn)中具有極高的實(shí)用價(jià)值。例如，在電子元器件的批量生產(chǎn)過(guò)程中，如果某個(gè)批次的產(chǎn)品出現(xiàn)質(zhì)量問(wèn)題，導(dǎo)致導(dǎo)通電阻異常，GWLR-256的智能預(yù)警系統(tǒng)能夠迅速捕捉到這些異常信號(hào)，并及時(shí)通知生產(chǎn)人員。生產(chǎn)人員可以根據(jù)系統(tǒng)標(biāo)記的失效點(diǎn)和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，快速定位問(wèn)題所在，采取相應(yīng)的措施進(jìn)行調(diào)整和改進(jìn)，從而避免了大量不合格產(chǎn)品的繼續(xù)生產(chǎn)，有效縮短了異常排查時(shí)間，提高了生產(chǎn)效率。綜上所述，GWLR-256多通道RTC導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)分組**控制、極速數(shù)據(jù)處理以及智能預(yù)警系統(tǒng)等一系列創(chuàng)新功能，成功地將產(chǎn)線測(cè)試效率提升了50%以上，為企業(yè)的高效生產(chǎn)和質(zhì)量控制提供了強(qiáng)有力的支持。 該系列產(chǎn)品均能提供可靠、準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果，確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。廣州PCB絕緣電阻測(cè)試哪家好
高精度電阻測(cè)試往往需要在恒溫條件下進(jìn)行，以減少誤差。廣州PCB絕緣電阻測(cè)試哪家好
在電子組裝行業(yè)，有許多可用的方法可以來(lái)評(píng)估組件表面的電化學(xué)遷移傾向。根據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試將繼續(xù)為SIR。這是因?yàn)樵摐y(cè)試**接近組件的正常使用壽命中導(dǎo)致電化學(xué)遷移的條件，而且它考慮了所有促進(jìn)電化學(xué)遷移機(jī)制的四個(gè)因素之間的相互作用。當(dāng)測(cè)試集中在一個(gè)或一些因素上時(shí)，例如測(cè)試離子含量，它們可能表明每個(gè)組件上離子種類的變化，但它們不能直接評(píng)估電化學(xué)遷移的傾向。在銅、電壓、濕度和離子含量之間的相互作用中存在著一些關(guān)鍵因素，電解會(huì)導(dǎo)致枝晶生長(zhǎng)，這將繼續(xù)推動(dòng)測(cè)試的**佳實(shí)踐朝著直接測(cè)試表面絕緣電阻的方向發(fā)展。事實(shí)上，助焊劑殘?jiān)泻写罅康碾x子，局部萃取試驗(yàn)很快就超過(guò)了電阻率極限。在未清洗板上有幾種離子濃度很高?？偟膩?lái)說(shuō)，這是一個(gè)非常極端的比較，因?yàn)楦锌赡苁遣糠智逑炊皇峭耆辞逑?。這加強(qiáng)了必須清洗使用了水溶性焊錫膏組件的重要性。廣州PCB絕緣電阻測(cè)試哪家好
