2025-05-29 00:24:41
質(zhì)量管控:全生命周期數(shù)據(jù)閉環(huán):1 數(shù)字化檢測體系:部署三坐標測量實驗室(蔡司Contura 7):檢測維度:尺寸精度(±0.08mm)、形位公差(平面度≤0.05mm)、表面粗糙度;檢測效率:單件檢測時間≤12分鐘,支持SPC過程控制(CpK≥1.33)。2 無損檢測技術(shù)集成,?X射線探傷:GE phoenix Vantage 640系統(tǒng),檢測分辨率5μm,氣孔率≤0.05%;超聲波檢測:10MHz探頭,探測深度≥30mm,夾雜物定位精度±0.2mm;渦流檢測:表面裂紋檢出率≥99%,誤報率